اصول طیف سنجی جرمی (اسپكترومتري جرمي )
یک ذره باردارمتحرک باسرعتی یکنواخت درخلا ء تحت تاثیر یک میدان مغناطیسی نیرویی تحمل می کند که سبب تغییر مسیرش می شود.انحراف ذره ازمسیراولیه بستگی به جرم وبارالکتریکی ذره دارد.اگر سرعت ذره باردارتحت تاثیر یک میدان الکتریکی به اختلاف پتانسیل V تشدید شده باشد انرژی جنبشی ذره دراثراین میدان عبارت است از (1 ) mv2 /2 =V.e
که دراین رابطه e و m و v به ترتیب بار وجرم وسرعت ذره می باشد.طيف نگارجرمي يون هارابرحسب مقادير m/e ازيكديگر جدا مي كند. در حضور یک میدان مغناطیسی ، یک ذره باردار مسیر منحنی شکلی را خواهد داشت. معادلهای که شعاع این مسیر منحنی شکل را نشان میدهد به صورت زیراست : ( 2) r = mv / eH
که r شعاع انحنای مسیر و H شدت میدان مغناطیسی است. باحذف v ازبين دومعادله فوق٬ معادله اساسي اسپكترومتري هاي جرم ساده را بدست مي دهد. m / e = H2R2 / 2V
این معادله نشان مي دهد که شعاع مسيريون٬ مي تواند در اثر تغيير H ويا V تغيير نمايد. معمولا H را متغير انتخاب مي نمايند.
رفتار و عمل یک یون را در بخش تجزیهگر جرمی یک طیف سنج جرمی توسط اين معادله مي توان توجیه نمود .